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首頁-產(chǎn)品展示-SEM臺(tái)式掃描電鏡-SNE-4500M Plus-SNE-4500M Plus賽可高分辨率(5nm)臺(tái)式電鏡
更新時(shí)間：2025-05-06
產(chǎn)品型號(hào)：SNE-4500M Plus
簡(jiǎn)要描述：賽可高分辨率(5nm)臺(tái)式電鏡：賽可(SEC)SNE-4500M Plus臺(tái)式掃描電鏡是一款一款高性能，高配置的產(chǎn)品。
企業(yè)實(shí)力
Enterprise Strength
有效保修
Valid Warranty
質(zhì)量保障
Quality Assurance產(chǎn)品中心
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詳細(xì)介紹
賽可高分辨率(5nm)臺(tái)式電鏡簡(jiǎn)介：
SNE-4500M Plus是一款高性能，高配置的產(chǎn)品。
賽可高分辨率(5nm)臺(tái)式電鏡主要特點(diǎn)：
1.Option: 冷臺(tái)（可達(dá)到-20°C）：
搭載冷臺(tái)防止含水樣品的脫水，維持樣品原貌，實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)時(shí)間對(duì)含水樣品的觀察和分析。
2.高性能臺(tái)式掃描電子顯微鏡：
1）配置頂部CCD相機(jī) ：具備彩色光學(xué)圖像導(dǎo)航功能，1:1彩色照片導(dǎo)航，便于尋找樣品，使操作變得更簡(jiǎn)單。
2）5軸全自動(dòng)樣品臺(tái) Recipe Function：實(shí)現(xiàn)X、Y、Z、R（旋轉(zhuǎn)）和T（傾斜）五軸的自動(dòng)移動(dòng)，有利于多角度精細(xì)地觀察樣品。-45°~90°大范圍的傾斜角度，可以在不更換特定樣品臺(tái)的情況下直接進(jìn)行截面觀察。
3）Recipe Function：可保存6個(gè)觀察位置的坐標(biāo)信息，并可同時(shí)記錄當(dāng)時(shí)的觀察條件，以便用戶對(duì)有價(jià)值的區(qū)域進(jìn)行二次觀察和分析。
3.EDS System：
利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上，接收不同元素在電子束作用后所產(chǎn)生的特征X射線信號(hào)進(jìn)行定性和定量分析。
4.Ion Sputter Coater：
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型號(hào)：SNE-4500M Plus
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聯(lián)系人：黃文日
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